Yakovyna VS, Symets II. Towards a software defect proneness model: feature selection. https://aait.op.edu.ua [інтернет]. 17, Березень 2021 [цит. за 03, Березень 2025];4(4):354-65. доступний у: https://aait.op.edu.ua/index.php/journal/article/view/127