Yakovyna, Vitaliy S., Ivan I. Symets. «Towards a Software Defect Proneness Model: Feature Selection». Прикладні аспекти інформаційних технологій 4, no. 4 (Березень 17, 2021): 354-365. дата звернення Березень 3, 2025. https://aait.op.edu.ua/index.php/journal/article/view/127.