Шановні колеги! ХІ Міжнародна науково-практична конференція «Інформатика. Культура. Техніка» (25.09.2025 – 26.09.2025) (Детальніше)
2021; Vol. 4 No.4: 354–365
2021; Vol. 4 No.4: 354–365
DOI: https://doi.org/10.15276/aait.04.2021.5
Yakovyna V. S., Symets I. I.“Towards a software defect proneness model: feature selection”. Applied Aspects of Information Technology. Publ. Nauka i Tekhnika. Odessa: Ukraine. 2021; Vol. 4 No. 4: 354– 365. DOI: https://doi.org/10.15276/aait.04.2021.5
